Tagungsprogramm
Sonntag, 1. März 2015
| 17:00 - 19:00 | Registrierung | Hotel Vier Jahreszeiten, Empfang |
| 18:00 - 22:00 | Abendessen, Maultaschenbuffet (incl. Getränke bis 22 Uhr) | Hotel Vier Jahreszeiten, Atrium |
| 20:00 - 22:00 | Öffentliche Sitzung der GI/GMM/ITG-Fachgruppe "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" | Hotel Vier Jahreszeiten, Gorissaal |
Montag, 2. März 2015
| 7:30 - 9:00 | Frühstücksbuffet | Hotel Vier Jahreszeiten, Restaurant Stift Urach, Restaurant |
| 8:00 - 9:00 | Registrierung | Stift Urach, Empfang |
| 9:00 - 10:00 | Eröffnung Eingeladener Vortrag: Electrical Overstress (EOS) of Semiconductors (SC) in Automotive Applications, Root Causes, and Conclusions Christoph Thienel, Robert Bosch GmbH |
Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 10:00 - 10:30 | Kaffeepause | Stift Urach, vor Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 10:30 - 12:00 | Session 1: Testerzeugung Piet Engelke, Infineon Technologies AG Erzeugung diagnostischer Testmuster unter komplexen Constraints Tobias Koal, Stephan Eggersglüß, Mario Schölzel BTU Cottbus-Senftenberg, Universität Bremen, IHP Leibnitz-Institut für Innovative Mikroelektronik On the Automatic Generation of SBST Test Programs for In-Field Test Andreas Riefert, Riccardo Cantoro, Matthias Sauer, Matteo Sonza Reorda, Bernd Becker Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, Politecnico di Torino On the Automated Verification of User-Defined MBIST Algorithms Josef Kinseher, Michael Richter Intel Mobile Communications Neubiberg |
Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 12:00 - 13:30 | Mittagessen | Hotel Vier Jahreszeiten, Restaurant |
| 13:30 - 14:15 | Eingeladener Vortrag: Electronics in Nano-Era: Are We Facing a Reliability Wall? Said Hamdioui, Delft University |
Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 14:15 - 15:45 | Session 2: Fehlersimulation und Ausfallanalyse Walter Anheier, Universität Bremen Fehlereffektsimulation mittels virtueller Prototypen Sebastian Reiter, Markus Becker, Oliver Bringmann, Andreas Burger, Moomen Chaari, Rolf Drechsler, Thomas Kruse, Christoph Kuznik, Jo Laufenberg, Hoang Le, Petra R. Maier, Daniel Müller-Gritschneder, Hendrik Post, Jan-Hendrik Oetjens, Wolfgang Rosenstiel, Andreas von Schwerin, Bogdan-Andrei Tabacaru, Alexander Viehl FZI Forschungszentrum Informatik, Universität Paderborn, Universität Tübingen, Infineon Technologies AG, Universität Bremen, Technische Universität München, Robert Bosch GmbH, Siemens AG Automation of Failure Propagation Analysis through Metamodeling and Code Generation Moomen Chaari, Wolfgang Ecker, Thomas Kruse, Bogdan-Andrei Tabacaru Infineon Technologies AG Hochbeschleunigte Simulation von Verzögerungsfehlern unter Prozessvariationen Eric Schneider, Michael A. Kochte, Hans-Joachim Wunderlich Universität Stuttgart |
Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 15:45 - 16:30 | Kaffeepause und Postersession Systemmodellierung zur Fehlereffektsimulation Andreas Burger, Sebastian Reiter, Alexander Viehl, Oliver Bringmann, Wolfgang Rosenstiel FZI Forschungszentrum Informatik, Universität Tübingen Analyzing an SET at Gate Level using a Conservative Approach Niels Thole, Görschwin Fey, Alberto Garcia-Ortiz Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., Universität Bremen Testing Devices requiring Regulation Loops using Standard ATE Instruments Angelo Zucchetti Advantest Italia S.r.l Test von HF-Multiplexern für hohe Spannungen Björn Bieske, Michael Meister, Dagmar Kirsten Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, X-FAB Semiconductor Foundries AG Automatisierte Erstellung von Blackbox Tests am Beispiel von Stromverteilerleisten Wolfgang Kilian, Christian Pätz, Ulrich Heinkel Technische Universität Chemnitz |
Stift Urach, Seminarsaal Anna-Magdalena Bach und Vorraum |
| 16:30 - 18:00 | Session 3: Testdurchführung W. Vermeiren, Fraunhofer IIS/EAS Dresden Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler Sybille Hellebrand, Thomas Indlekofer, Matthias Kampmann, Michael A. Kochte, Chang Liu, Hans-Joachim Wunderlich Universität Paderborn, Universität Stuttgart Die automatische Generierung von Testprogrammen im täglichen Einsatz Ralf Baumann, Nico Nebel Teradyne GmbH, Robert Bosch GmbH An Automatic Test Cell Operation to Serve Multiple Users and Products Concurrently Sebastian Sattler, Peter Muhmenthaler University Erlangen-Nuremberg, MUHMY Systems |
Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 19:00 - 23:00 | Abendveranstaltung (incl. Getränke bis 23 Uhr)) | Hotel Vier Jahreszeiten, Höfle und Atrium |
Dienstag, 3. März 2015
| 7:30 - 9:00 | Frühstücksbuffet | Hotel Vier Jahreszeiten, Restaurant Stift Urach, Restaurant |
| 9:00 - 10:30 | Session 4: Test und Zuverlässigkeit analoger Schaltungen Mario Schölzel, BTU Cottbus-Senftenberg Technische Informatik Ein regelungstechnischer Ansatz zur Testsignalgenerierung für Analogschaltungen Wolfgang Vermeiren, Fabian Hopsch, Roland Jancke Fraunhofer IIS/EAS Dresden Evaluierung vs. Test von HF-CMOS-Modulen Björn Bieske, Klaus Heinrich Institut für Mikroelektronik- und Mechatronik-Systeme gemeinnützige GmbH, X-FAB Semiconductor Foundries AG Localization of Temperature Sensitive Areas on Analog Circuits C. Eichenseer, Dr. Gerhard Pöppel, Prof. Dr. Thomas Mikolajick Infineon Technologies AG, NaMLab gGmbH, TU Dresden |
Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 10:30 - 11:00 | Kaffeepause | Stift Urach, vor Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 11:00 - 13:00 | Session 5: Zuverlässigkeitsbewertung und Fehlertoleranz Wolfgang Hoppe, Rheinmetall Technical Publications GmbH Schnelles Simulationstool für Bonddrahttemperaturen basierend auf inversen Methoden und 3D-konformen Abbildungen Carl Christoph Jung, Christian Silber, Jürgen Scheible, Martin Pfost Robert Bosch Centre for Power Electronics Reutlingen University, Robert Bosch GmbH Verbesserter TMR-Strahlungsschutz für ASIC-Layouts Vladimir Petrovic, Gunter Schoof, Milos Krstic IHP Frankfurt (Oder) Neue Methodik zur Implementierung fehlertoleranter pipeline-basierter Architekturen Stefan Weidling, Milos Krstic, Vladimir Petrovic, Michael Gössel IHP Frankfurt (Oder), Universität Potsdam Joint Consideration of Performance, Reliability and Fault Tolerance in Regular Networks-on-Chip via Multiple Spatially-Independent Interface Terminals Philipp Gorski, Tim Wegner, Dirk Timmermann University of Rostock |
Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 13:00 - 13:15 | Schlusswort | Stift Urach, Seminarsaal Johannes-Brenz |
| 13:15 - 14:15 | Mittagessen | Hotel Vier Jahreszeiten, Restaurant |
| 14:30 - 15:30 | Stadtführung Bad Urach |
Stand: 03.02.2015